Mitutoyo 三丰WLI复消色差远场校正物镜
Mitutoyo / WLI Plan APO Objectives
Mitutoyo 三豐 WLI Plan APO 無限遠校正物鏡
Mitutoyo 三豐 WLI Plan APO 無限遠校正物鏡是專為白光干涉測量應用設計的高解析度平場複消色差物鏡，具備高數值孔徑特性，適合高精度表面形貌與干涉條紋測量。
該系列物鏡採用緊湊輕量化設計，提供 2.5X 至 50X 放大倍率選項，並設計用於搭配 100mm 焦距管鏡使用。每支物鏡內建干涉條紋調節機構和分光鏡，可協助精確控制干涉條紋圖案。
產品特點
- 是干涉測量法應用的理想選擇。
- 工作距離長，並具備高數值孔徑設計。
- 高品質平場複消色差設計，利於高解析成像與測量。
- 內建干涉條紋調節機構與分光鏡，便於干涉條紋控制。
產品詳細規格
| 參數項目 | 2.5X WLI Plan Apo | 5X WLI Plan Apo | 10X WLI Plan Apo | 25X WLI Plan Apo | 50X WLI Plan Apo |
|---|---|---|---|---|---|
| 產品編號 | #74-656 | #74-655 | #74-657 | #74-659 | #74-660 |
| 型號 | 378-400 | 378-005 | 378-401 | 378-402 | 378-403 |
| 光學性能參數 | |||||
| 放大倍率 | 2.5X | 5X | 10X | 25X | 50X |
| 數值孔徑 (NA) | 0.14 | 0.28 | 0.38 | 0.50 | 0.70 |
| 焦距 (mm) | 40.00 | 20.00 | 10.00 | 4.00 | 2.00 |
| 工作距離 (mm) | 13.00 | 8.00 | 6.00 | 3.60 | 2.00 |
| 分辨能力 (μm) | 2.0 | 0.98 | 0.72 | 0.55 | 0.39 |
| 景深 (μm) | 14.03 | 3.51 | 1.90 | 1.10 | 0.56 |
| 水平視場 (mm) | 3.52 | 1.76 | 0.88 | 0.35 | 0.18 |
| 視場數 (mm) | 11.00 | 11.00 | 11.00 | 11.00 | 11.00 |
| 機械與安裝參數 | |||||
| 齊焦長度 (mm) | 60.00 | 60.00 | 60.00 | 60.00 | 60.00 |
| 長度 (mm) | 47.00 | 52.00 | 54.00 | 57.00 | 58.00 |
| 最大直徑 (mm) | 58.50 | 40.00 | 40.00 | 40.00 | 40.00 |
| 重量 (g) | 320.00 | 210.00 | 220.00 | 290.00 | 300.00 |
| 通用配置（全系列通用） | |||||
| 安裝螺紋 | RMS/20.32mm x 36 TPI | ||||
| 兼容管透鏡 | Focal Length: 100mm（需單獨購買） | ||||
| 最大傳感器格式 | 2/3" | ||||
| 生產商 | Mitutoyo 三豐 | ||||
選型提示：該系列包含多個倍率型號，不同倍率的數值孔徑、工作距離、視場、解析力等參數不同，正式選型時需結合被測樣品尺寸、解析度需求與白光干涉系統配置確認。
核心優勢
白光干涉專用 針對 WLI 白光干涉測量設計，適合精密非接觸式表面分析。
高解析平場 APO 平場複消色差設計可提升視場平坦度、色差控制與測量可靠性。
60mm 齊焦距離 系列物鏡保持 60mm 齊焦距離，利於系統集成與倍率切換。
多倍率選型 提供 2.5X 至 50X 倍率範圍，覆蓋不同視場、解析度與工作距離需求。
功能亮點
干涉條紋控制
每支物鏡均配備干涉條紋調節機構，可協助進行干涉條紋圖案的精確測量與控制。
內建分光鏡
物鏡內部整合分光鏡結構，適合白光干涉測量系統中的光路控制與測量需求。
輕量化設計
在保持長齊焦距離與高光學性能的同時，維持更緊湊、更輕量的機構設計。
適用領域
- 白光干涉測量 WLI
- 垂直掃描干涉測量 VSI
- 3D 表面形貌分析
- 色散與反射率測量
- 精密表面輪廓檢測
- 醫學成像與高解析觀察
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