徕卡Leica倒置工业全电动研究型显微镜DMi8M

產品概述

全電動研究型平台

徠卡 DMi8M 是高端倒置金相顯微鏡平台,採用全電動智能控制,適用於金相分析、材料科學、微電子檢測及失效分析等研究場景。

多模式表面觀察

支援明場、暗場、偏光、微分干涉 DIC、UC-3D 超對比 3D 照明及螢光等觀察方式,便於揭示表面缺陷和高度資訊。

模組化靈活擴展

系統預留高端成像擴展接口,可支援共聚焦、超解析、光切割、單光子與雙光子等成像模組升級。

技術亮點

為尖端材料研究打造的倒置顯微鏡平台

DMi8M 集全電動一體化智能控制、模組化配置與多種高端成像技術於一身。無論是常規金相檢測,還是光切割、超解析、共聚焦乃至單/雙光子研究,均可依需求配置。

  • 物鏡轉盤、聚光鏡、調焦、光闌、螢光濾塊等均可電動驅動。
  • 物鏡、聚光鏡、濾塊與光闌等組件可自動識別並記錄成像參數。
  • 倒置工業設計適用於大尺寸、重載樣品,無需切割製樣即可直接觀察。
  • 宏觀物鏡可提供 35.7 mm 超大視場,便於從宏觀概覽切換至納米級細節。
徠卡 Leica DMi8M 倒置工業全電動研究型顯微鏡
徠卡 DMi8M 倒置工業全電動研究型顯微鏡平台。

配置與應用

電動光學組件

物鏡轉盤為全電動驅動,可選 6 位或 7 位 M25 接口,帶編碼識別功能,可自動識別物鏡資訊。

重載掃描載物台

可配置全電動掃描載物台,台面尺寸不小於 300 x 300 mm,XY 行程不小於 130 x 85 mm,承重不低於 30 kg。

LAS X 分析軟體

配備 LAS X 圖像分析軟體,可包含鋼鐵專家、相專家、晶粒專家等金相分析模組,支援自動測量、評級及報告生成。

技術參數

項目 參數
產品型號 DMi8M
光學系統 HC 無限遠校正系統
觀察方法 明場、暗場、偏光、DIC、UC-3D、螢光
物鏡轉盤 全電動,6/7 位
調焦精度 ≤10 nm
載物台 全電動,承重 30 kg
照明 全電動 LED / 鹵素
擴展能力 共聚焦、超解析、光切割、單/雙光子
軟體 LAS X(含金相分析模組)
適用場景 材料科學、金相分析、微電子檢測、失效分析
供貨狀態 現貨

具體配置可依物鏡、載物台、照明與成像模組方案進行調整,以上資料依來源頁整理。

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